本文主要讲述的是在基于同步辐射光源的近常压光电子能谱（apxps）的实验中，在高光通量的x光照射下，样品表面会出现光诱导氧化还原效应。本研究以pt单晶（pt（111）和pt(110)）在阶梯式o2气压（低压：uhv~2 mbar;高压：~5 mbar）中表面氧化现象的apxps研究为例，结果表明在低压o2中，不管是否有x光光照样品表面，pt（111）和pt(110)单晶表面仅有化学吸附原子氧物种。然而，在高压o2（~5 mbar）中，x光光照pt（111）表面会使得表面深度氧化，生成化学吸附氧物种和表面氧化物，但x光光照pt（110）表面不会生成表面氧化物，仅有化学吸附原子氧物种。
